基本信息

仪器型号：JXA-8230

生产厂家：日本JEOL公司

主要配置及性能：

波谱仪(WDS)：四道谱仪，八块分光晶体；可定量分析5B~92U常量、微量(~1‰)元素；元素探测极限约为0.01%。

能谱仪(EDS)：JEOL能谱仪，可快速定性、半定量分析5B~92U元素。

电镜放大倍数：40~30000倍。空间分辨率：6nm。最小束斑直径：1μm。

应用范围：

矿物常量元素的定性、定量分析，线、面扫描分析，电子图像的摄取。

形貌分析：岩石、矿物、金属及固体材料的表面显微特征分析；

点分析：岩石、矿物、金属及固体材料的微区化学成分分析；

面线分析：岩石、矿物、金属及固体材料中元素的分布情况分析。

送样要求：

1、送样人需填写 申请单（校内）或 送样单（校外）。

2、光薄片尺寸：48mm×26mm；光片：20mm×20mm；30mm×30mm，厚度均不超过20mm。

3、分析表面要光滑、洁净和平整（光片顶底面要平整）。

4、抛光后的薄片和光片，需要送样人用碳素笔在薄片和光片上圈定大概分析位置并标出之间路径，以便在电镜下查找。注意圈定时不要用手指触摸薄片表面，以免污染。

5、圈定位置后将薄片交于实验室人员，进行喷碳处理。

电子探针显微分析仪（EPMA）